TN 30-0.01EE 超聲波測厚儀

產品型號：TN 30-0.01EE, TN 60-0.01EE

TN-EE 超聲波測厚儀產品簡介

基于回波-回波原理的手持式超聲波材料厚度測量設備。配備外部測量探頭，可在不破壞涂層的情況下測量基材真實厚度。

TN-EE 超聲波測厚儀產品特點

外部測量探頭： 標配用于回波-回波測量的探頭。

數據接口： 標配 USB 接口。

測量模式：

掃描模式： 每秒進行 10 次測量。

單點測量模式：

內部存儲器： 可存儲多達 20 個文件（每個文件*多 100 個測量值）。

可選測量單位： mm, inch。

雙測量原理：

脈沖-回波模式： 標準超聲波測厚模式。

回波-回波模式： 關鍵特性 - 可測量材料的實際厚度，不受表面涂層影響（例如測量帶涂層管道的壁厚，無需去除涂層）。測量結果已自動補償涂層厚度影響并直接顯示。

回波-回波測量： 僅能使用標配測量探頭（型號 SAUTER ATU-US12，見附件）。

標配： 操作說明書、電池、外部測量探頭（? 10 mm）、超聲波耦合劑。

堅固手提箱： 便于攜帶和存放。

TN-EE 超聲波測厚儀產品配置

主機

外部測量探頭 (? 10 mm, 5 MHz) × 1

超聲波耦合劑 × 1

堅固手提箱 × 1

電池 (2×1.5 V AA)

TN-EE 超聲波測厚儀技術參數