XF802-P30厚度表用來測量薄膜，紙張，塑料等薄片材料的厚度。該儀器可以和Testex拓片紙配合使用，測量表面處理后的表面粗糙度。執行標準: NACE RP0287, ASTM D 4417-C, ISO 8503-5
技術指標：
儀器型號
XF802-P30
測量范圍
0-1000 μm
顯 示
1 μm
儀器尺寸
125*95*25 mm
重 量
270 g
裝 箱 單
SP300主機, 說明書和合格證
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XF802-P30厚度表用來測量薄膜，紙張，塑料等薄片材料的厚度。該儀器可以和Testex拓片紙配合使用，測量表面處理后的表面粗糙度。
執行標準: NACE RP0287, ASTM D 4417-C, ISO 8503-5
技術指標：
儀器型號
XF802-P30
測量范圍
0-1000 μm
顯 示
1 μm
儀器尺寸
125*95*25 mm
重 量
270 g
裝 箱 單
SP300主機, 說明書和合格證