導讀:我們將全面負責OTSUKA大塚電子旗下光學測量系列產(chǎn)品在中國區(qū)域的銷售、技術支持及售后服務工作。
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玉崎科學儀器（深圳）有限公司代理日本OTSUKA大塚電子的通知
尊敬的客戶、合作伙伴及業(yè)界同仁：
我們非常榮幸地宣布，玉崎科學儀器（深圳）有限公司（以下簡稱“玉崎科學”）已正式成為日本OTSUKA大塚電子（Otsuka Electronics）在市場的授權代理商。即日起，我們將全面負責OTSUKA大塚電子旗下光學測量系列產(chǎn)品在區(qū)域的銷售、技術支持及售后服務工作。
此次合作是玉崎科學在高端光學測量與半導體檢測領域布局的重要一步。日本OTSUKA大塚電子作為全球的光學測量設備制造商，深耕行業(yè)多年，憑借*的技術、嚴苛的品控，在半導體、光學鍍膜、精密涂層等領域樹立了行業(yè)。其產(chǎn)品線涵蓋了從手持式膜厚儀到旗艦級顯微分光膜厚儀、光譜輻射計等多種高端設備，以“非破壞+高精度+現(xiàn)場快測”的優(yōu)勢贏得了全球企業(yè)的廣泛認可。
通過本次代理合作，玉崎科學將向客戶引進OTSUKA大塚電子的核心產(chǎn)品線，包括但不限于：
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手持式膜厚儀（SM-100系列）：基于反射光譜法，集成白光光源與微型光譜儀，機身僅重1.1kg，單手可握，無需外接復雜設備，單次檢測≤1秒，非接觸式測量不損傷樣品，適合車間、實驗室、現(xiàn)場巡檢等多種場景。
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顯微分光膜厚儀（OPTM系列）：旗艦級設備，采用顯微分光干涉法，支持微區(qū)（光斑Φ3～40μm）、納米級精度測量，*多可解析50層薄膜結(jié)構，適配半導體、顯示、光學鍍膜研發(fā)與質(zhì)控的高端需求。
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晶圓薄膜厚度計（SF-3系列）：基于光譜干涉法，主打高速、長工作距，支持在線實時監(jiān)控，可穿透保護膜、玻璃窗口直接測基底厚度，適配硅晶圓、化合物半導體等產(chǎn)線集成場景。
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高靈敏度光譜輻射計（HS-1000系列）：集成衍射光柵分光與熱電冷卻線性陣列傳感器技術，亮度測量范圍達0.005 cd/m2～400,000 cd/m2，偏振誤差＜1%，適用于LCD、有機EL等顯示設備的光譜數(shù)據(jù)、亮度、色度測量。
玉崎科學將充分發(fā)揮自身的渠道管理優(yōu)勢與技術支持能力，確保OTSUKA大塚電子產(chǎn)品在市場的供應穩(wěn)定與服務質(zhì)量。我們將為客戶提供從選型咨詢、技術應用到售后維護的全方位支持，助力客戶提升生產(chǎn)效率與產(chǎn)品品質(zhì)。
感謝各界朋友長期以來的信任與支持，期待與您攜手，共同推動行業(yè)技術的進步與發(fā)展。
特此通知。
玉崎科學儀器（深圳）有限公司
2026年3月30日
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